磁粉探伤是利用铁磁性材料被磁化后，由于不连续的存在，使工件表面和近表面的磁力线发生局部畸变而产生漏磁场（即磁感应线离开和进入表面时形成的磁场）吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合适光照下目视可见的磁痕，从而显示出不连续性的位置、形状和大小。
主要特点
磁粉探伤可检出
铁磁性材料中裂纹、
发纹、白点、折叠、夹杂物等缺陷，具有很高的
检测灵敏度，且能直观的显示出缺陷的位置、形状、大小和严重程度，检查缺陷的重复性好。在管材、棒材、型材、焊接件、机加工件、锻件探伤中得到了广泛的应用，尤其是在压力容器的定检中更是发挥着独特的作用。《压力容器定期检验规则》规定，在用压力容器的检验方法以宏观检查测厚、表面无损检测为主，JB4730-94《压力容器无损检测》标准更是规定，对于铁
磁性材料表面应优先选用磁粉探伤。
检测原理
便携式探伤仪采用
可控硅作
无触点开关，噪音小、寿命长、操作简单方便、适用性强，工作稳定。按磁化方式分为电磁轭探伤仪、旋转磁场探伤仪，按电流分为交流、直流、交直流两用型等
磁粉探伤仪，直流供电电源为可充电电池，适用于野外无电源现场操作以及高压不能进入的容器、桥梁、管道等现场操作，一次充电连续工作时间可达6小时以上。交流供电电源采用~220V电源直接输入，无需其他仪器配套，操作方便、简单、重量轻、便于携带，因而该仪器得到广泛使用。
便携式探伤仪可配A、D、E、O四种型号探头。
1、马蹄式探头（A型）： 它可以对各种角焊缝，大型工件的内外角进行探伤；
2、电磁轭探头（D型）：它配有活关节，可以对曲面、平面工件进行探伤；
3、旋转磁场探头（E型）：它可以对各种焊缝、各种几何形状的曲面、平面、管道、锅炉、球罐等压力容器进行一次性全方位探伤，可检查工件表面全方位的缺陷和伤痕；
4、磁环式线圈（O型）：它可以满足所有工件能放入线圈的周向裂纹的探伤，用它来检测工件的疲劳痕（疲劳痕均垂直于轴向）极为方便，用它还可以对工件进行远离法
退磁。
固体式磁粉探伤机用于检测量大体积小的工件，是一种低电压交流机电一体形的探伤设
备纵向复合磁化和自动退磁，具有断电相位控制功能，交流磁化不漏检，可用于连续法和剩磁法探伤。可实现夹紧，喷洒磁悬液，磁化，松开等一系列探伤过程。
优劣性
优点
轻小，可以到现场探伤乃至高空进行探伤作业。包括对大型零部件进行局部磁化探伤。特别适用于平焊缝、角焊缝、压力容器、管道及形状复杂零部件的探伤。对不允许高电压进入设备内探伤的场合更为适合。
局限
磁粉探伤仪只能对大型工件分段探伤，不能一次性检测出全方位的裂纹，所以其探伤效率较低。
应用
各类锅炉、压力容器、石油化工、冶金、航空、船舶、铁路、桥梁等行业的结构件、焊接件、锻铸件热处理件的
磁粉探伤。
执行标准：
JB/T6870-93旋转磁场探伤仪技术条件
JB/T7411-94电磁轭探伤仪技术条件
探头
A型探头：马蹄
磁轭角焊缝探头，活动关节斜面磁头，配有工作灯；对异形面、形状复杂工件探伤尤其适用。极距：20-160mm；提升力：AC≥45N，DC≥177N。配备一台电磁轭角
焊缝探伤仪，探头采用活关节可自由调节使用范围广。
E型探头：交叉磁轭探头或旋转磁场探头，可一次全方位复合磁化探伤，行走滚轮和工作灯可提高探伤速度。极距：110mm，提升力：AC≥45N。配备一台旋转磁场探伤仪，两只交叉的磁轭采用交流电移相技术，使之产生随时间变化的合成旋转磁场，对工件一次全方位复合磁化。探头速度快、检测质量高。
D型探头：电磁轭探头，多种活动关节，
磁化强度大。极距：60-220mm，探头具有导磁高、磁化强度大等特点。
O型探头：也称环形探头，
内径：150mm，中心磁场≥1800AT。配备一台环形探伤仪，它是采用线圈通电时产生强磁场的原理设计的，适用于轴棒类、管道类、螺栓类等复杂工件的分段探伤或
退磁。
常见问题
由于
铁磁性材料的磁率远大于非
铁磁材料的
导磁率，根据工件被磁化后的
磁通密度B=μH来分析，在工件的单位面积上穿过B根磁线，而在缺陷区域的单位面积上不能容许B根磁力线通过，就迫使一部分磁力线挤到缺陷下面的材料里，其它磁力线不得不被迫逸出工件表面以外出形成漏磁，
磁粉将被这样所引起的漏磁所吸引。
二、产生漏磁的影响因素
2、磁化
磁场强度(
磁化力)大小：磁化力越大、漏磁越强。
3、被检工件的形状和尺寸、缺陷的形状大小、埋藏深度等：当其他条件相同时，埋藏在表面下深度相同的气孔产生的
漏磁要比横向裂纹所产生的漏磁要小。
某些转动部件的
剩磁将会吸引铁屑而使部件在转动中产生摩擦损坏，如轴类轴承等。某些零件的剩磁将会使附近的仪表指示失常。因此某些零件在
磁粉探伤后要进行退磁处理。
通过
闭合回路的
磁通量发生变化，而在回路中产生
电动势的现象称为电磁感应;这样产生电动势称为
感应电动势，如果导体是个闭合回路，将有电流流过，其电流称为感生电流;变压器，发电机、各种
电感线圈都是根据电磁感应原理工作。
五、为什么要使用灵敏试片?
使用灵敏试片目的在于检验
磁粉和磁悬液的性能和连续法中确定试件表面有效
磁场强度和方向以及操作方法是否正确等综合因素。
检测方法
周向磁化法也称横向(或环形)磁化法,周向磁化产生的磁力线方向与磁化电流方向垂直,并沿零件的周向分布,磁场方向符合
右手定则。这种磁化可检测出与磁化电流方向大体一致的缺陷,即与轴基本平行的纵向缺陷。周向磁化电流的检测,将规定试件放在探伤机两
夹头夹紧,由低到高调整磁化电流,观察磁粉探伤机周向磁化电流的指示值,应能达到规定的电流值。利用相应规格的
电流互感器或
分流器,将对应
量程的标准
电流表和标准电压表接入磁粉探伤机磁化电流的输出端。调整磁化电流,在磁粉探伤机的周向磁化电流指示表的30%、60%和100%三点记录标准电流表的指示值,得到与磁粉探伤机电流表读数相对应的测量值,重复测量3次。周向
磁化电流相对误差按公式(1)计算:
检测周向磁化电流对示值的
最大相对误差不得超过±10%。
标准表的读数(W);计算机的功率示值(W);
示波表的示值(Hz);计算机的频率示值(Hz);采样仪表的示值(kWh);监示表(U)×监示表(A)。
首先,我们对工作正常的若干组工位进行几次测试,通过录得的数据的比较,可以掌握正常状态下相对某固定负载各参数的变动范围,可较易判断出数据是否失常。然后,我们在不改变负载的情况下对存在问题的各个工位进行测试,并根据得到的数据及以上分析的测试信号在系统中的传送过程来判断发生故障的部分:
1.所有的工位均由同一种型号的
电能表进行采样,采样信号通过各自的电平转换芯片后被传送到同一台计算机,由程序进行换算、修正。大部分工位工作显示均正常,即可排除计算机计算、修正程序出现错误的可能。
2.若标准表读数与采样仪表示值有较大误差,则采样仪表已不合格,需更换。更换合格采样表后进行再次检测。
3.若标准表读数与采样仪表示值相近,而
示波表测得脉冲数明显与合格的仪表不同,则采样仪表的输出有故障,需修理或更换。
4.若标准表读数与采样仪表示值相近,示波表测得脉冲数也正确,但计算机最终测得频率值和最终功率显示均不正确,则电平转换芯片发生故障,需更换。
性能试验室对我们白色家电生产厂家的重要地位是不言而喻的。我们通过在检定/校准过程中增加了对脉冲信号的测量分析,从而找到了产生故障的不同原因,及时采取相应措施,使系统恢复正常工作,并且测试准确度能达到国家规程的要求,产生了巨大的经济效益。
使工件中产生的感应磁场方向与工件轴线形相平行的磁化方法为纵向磁化法。该磁化法主要检测工件表面或近表面的横向缺陷,即与工件轴线方向相垂直或成某角度的缺陷。纵向磁化电流的检测方法同周向磁化电流的检测相同,但随磁化线圈的形状、放置位置等因素变化,原则上要求略高于周向磁化的
磁场强度,以
安匝数计。
相对误差计算方法同周向磁化电流的相对误差计算方法相同。
使用规定的
退磁试件,将退磁试件先磁化,再将已磁化的退磁试件退磁,退磁电流的检测方法同周向磁化电流的检测方法。用场强计测量试件退磁后的剩磁感应强度;退磁装置应能根据试件的用途将剩磁减小到指定的限度,剩磁感应强度不应大于0·2mT。
断开进线电源总开关,磁粉探伤机处于非工作状态,磁粉探伤机开关置于接通位置,用
直流电阻表测量电源进线与
保护接地电路之间的绝缘电阻,整机绝缘电阻不小于2MΩ。检查磁粉探伤机床体外壳与保护接地电路之间是否接触良好、可靠。
磁粉探伤机处于非工作状态,开关置于接通位置,用
耐压试验装置在电源进线与保护接地电路之间施加表1规定的试验电压。试验时,试验电压应逐渐上升到规定值,在规定的电压上保持1min,然后平稳下降到零,在室温20℃±5℃,相对湿度不大于85%的条件下,各回路绝缘强度在规定的50Hz正弦交变试验电压作用下,历时1min而无飞弧和击穿现象。对不能承受规定试验电压的电器元件,试验时应拆除。
对复杂工件进行磁化时,工件表面的
磁场强度分布很不均匀,
磁化电流的大小难以估算,仅凭经验对磁化电流进行选择往往也很难达到理想的磁化效果。因此一般都采用灵敏度试片来选择最佳的磁化规范。灵敏度试片还可用来检查探伤设备、
磁粉、磁悬液的综合使用性能,检查被检工件表面各点磁场的分布规律。灵敏度试片的使用方法是用胶带纸将A型标准试片上开槽的一面紧贴在被检工件清洁的表面上,在对工件和试片进行磁化的同时向试片上喷洒磁悬液,并观察试片上的磁痕。磁化电流恰当,那么试片未刻的槽表面上就会出现清晰的刻槽的磁痕。
七、黑光强度的检测
对于使用
荧光磁粉的探伤机,其黑光强度的大小将直接影响到
磁粉探伤结果。用黑光计测量距离
黑光灯380mm被检表面处,黑光强度应大于800μW/cm2,或按GB5097进行间接评定。
八、温度的检测
用规定试件,使磁粉探伤机在重复使用率为10%~20%时、或按公式(2)求得的
等效电流,连续工作4h后,各部位的最高允许温度和允许
温升用
半导体温度计测量应符合表2规定的各部位的温度。